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CST-50型夏比擺錘沖擊試驗缺口投影儀是為準(zhǔn)確檢查沖擊試樣的V型或U型缺口加工質(zhì)量而設(shè)計開發(fā)的專用光學(xué)儀器。將加工好的試樣缺口放大50倍并投影到觀察屏上，與刻在觀察屏上的標(biāo)準(zhǔn)圖板(符合國標(biāo)GB、美標(biāo)ASTM)進行比對，即可快速判斷檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格。該儀器操作簡單，對比直觀，效率高，能有效消除人為誤差，是理化試驗室的必備專用儀器。
適用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 229-2020《金屬材料 夏比擺錘沖擊試驗方法》
ASTM E23-2018《金屬材料缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)沖擊試驗方法》
ASTM E23-2018《金屬材料缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)沖擊試驗方法》
參數(shù)
1、放大倍數(shù)：50倍。
2、投影直徑：200mm。
3、投影屏刻線：
A：美標(biāo)V型缺口：角度:45°±1°
根部R:0.25±0.025mm
U型缺口：根部R:1±0.025mm
B：國標(biāo)V型缺口：角度:45°±2°
根部R:0.25±0.025mm
U型缺口：根部R:1±0.07mm
4、工作臺行程：
縱向：10mm
橫向：10mm
升降：12mm
5、工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0～360°。
6、儀器放大倍率：50×
物鏡放大倍率：2.5×
投影物鏡放大倍率：20×
7、光源(鹵鎢燈)：12V 100W。
8、電源：AC 220V 50Hz。
9、外形尺寸：515mm(L)×224mm(W)×603mm(H)。
10、重量：約20kg。
2、投影直徑：200mm。
3、投影屏刻線：
A：美標(biāo)V型缺口：角度:45°±1°
根部R:0.25±0.025mm
U型缺口：根部R:1±0.025mm
B：國標(biāo)V型缺口：角度:45°±2°
根部R:0.25±0.025mm
U型缺口：根部R:1±0.07mm
4、工作臺行程：
縱向：10mm
橫向：10mm
升降：12mm
5、工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0～360°。
6、儀器放大倍率：50×
物鏡放大倍率：2.5×
投影物鏡放大倍率：20×
7、光源(鹵鎢燈)：12V 100W。
8、電源：AC 220V 50Hz。
9、外形尺寸：515mm(L)×224mm(W)×603mm(H)。
10、重量：約20kg。
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